Nowy standard. RFID według CISC Semiconductor

CISC Semiconductor oferuje rozwiązania dla sektora RFID, ze szczególnym uwzględnieniem technologii RAIN i NFC. Uwagę zwraca system RFID Xplorer Inline, który znacząco podnosi jakość i wydajność produkcji etykiet inteligentnych.

Zainteresowanie ofertą CISC wynika z rosnącego znaczenia precyzyjnej kontroli procesów, zgodności z normami branżowymi oraz możliwości personalizacji. System Xplorer Inline umożliwia testowanie tagów RFID w czasie rzeczywistym, eliminując wadliwe elementy już na wczesnym etapie produkcji. Rozwiązanie zostało zaprojektowane z myślą o bardzo dużej przepustowości – obsługuje znaczniki w milisekundach – i może być łatwo integrowane z różnymi konfiguracjami linii produkcyjnych. Dzięki temu sprawdza się zarówno przy wytwarzaniu inlayów, jak i gotowych etykiet. Oferta CISC potwierdza, że nowoczesna produkcja RFID wymaga zaawansowanych narzędzi testujących, które nie tylko zwiększają efektywność, ale też pomagają spełniać coraz bardziej rygorystyczne wymagania rynku.

 

© CISC Semiconductor

« poprzedni   |   następny »

« wróć